]> ]>
Facebook ВКонтакте Одноклассники Mail.Ru Яндекс Google
 

    

Обложка

Афонский А.А., Дьяконов В.П.

Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике.

Москва: ДМК Пресс, 2011.- 688 с.

Вторичная: Дьяконов В.П.

ISBN / ISSN: 978-5-94074-626-3

Тираж: 1000 экз.

Инвентарный номер: 20738

Издание рекомендовано в качестве учебного пособия для студентов технических вузов

Первая в России монография по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S; и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов.

ББК: 32.844.1 ( Микрорадиоэлектронная аппаратура. Микроэлектроника); 31.221 ( Электрические измерения)

УДК: 621.3.049.7 ( Механическая конструкция, структурные материалы и компоненты); 621.3.08 ( Теория и методы электрических измерений. Узлы и детали электроизмерительных приборов)

ОКСО: 210000 ( Электронная техника, радиотехника и связь)



  • Оглавление
    • Предисловие
      • Благодарности и адреса для переписки
    • 1. Средства и объекты нанотехнологий
      • 1.1. Переход от микротехнологии к нанотехнологий
        • 1.1.1. От механических часов к микропроцессору
        • 1.1.2. Закон Мура и падение 100-нм барьера
      • 1.2. Электронная и рентгеновская микроскопия
        • 1.2.1. Отличия электронной микроскопии от оптической
        • 1.2.2. Типы электронных микроскопов
        • 1.2.3. Сферы применения электронных микроскопов
        • 1.2.4. Рентгеноскопия интегральных микросхем
      • 1.3. Компоненты интегральных микросхем
        • 1.3.1. Компоненты микросхем - пассивные и активные
        • 1.3.2. Полевые транзисторы - кирпичики интегральных микросхем
        • 1.3.3. Интегральные микромощные полевые транзисторы
        • 1.3.4. Терагерцовые полевые транзисторы
        • 1.3.5. Сверхскоростные гетеропереходные Si-Ge биполярные транзисторы
        • 1.3.6. Трехзатворные полевые транзисторы
        • 1.3.7. Нужны ли мощные транзисторы?
      • 1.4. Интегральные микросхемы
        • 1.4.1. Типы интегральных микросхем
        • 1.4.2. Процесс изготовления интегральных микросхем
        • 1.4.3. Микропроцессоры - от одноядерных к многоядерным
        • 1.4.4. Парадоксы микроэлектронной технологии
        • 1.4.5. От алюминия к меди
        • 1.4.6. Фотолитография с ультракороткими лучами - прорыв в будущее
        • 1.4.7. Тестирование и отладка микросхем
        • 1.4.8. Начало нанотехнологий в микроэлектронике
      • 1.5. Чудеса нанотехнологий
        • 1.5.1. Электромеханика на кремниевом кристалле (MEMS)
        • 1.5.2. Проекционный дисплей и гибкие экраны
        • 1.5.3. Нанотрубки
        • 1.5.4. Подключение нанотрубок к МДП-микротранзистору
        • 1.5.5. Галлиевый "градусник" на углеродной нанотрубке
        • 1.5.6. Твердотельная память вместо жестких дисков
        • 1.5.7. Нанотехнологии повышают мощность химических элементов
        • 1.5.8. Нанороботы и наноавтомобили
        • 1.5.9. Нанотехнологии в производстве новых материалов
        • 1.5.10. Полупроводниковые микролазеры
      • 1.6. От фантастики к практике
    • 2. Измерения на постоянном токе
      • 2.1. Основные компоненты электронных схем
        • 2.1.1. Пассивные и активные компоненты (обзор)
        • 2.1.2. Источники напряжения и тока
        • 2.1.3. Погрешность измерения постоянного напряжения
        • 2.1.4. Измерения в произвольных цепях постоянного тока
        • 2.1.5. Резистивные компоненты (резисторы)
        • 2.1.6. Комплекс приборов для измерений в микроэлектронике и в нанотехнологиях
      • 2.2. Источники электропитания и их имитаторы
        • 2.2.1. Первичные и вторичные источники электропитания
        • 2.2.2. Имитаторы батарей
        • 2.2.3. Высоковольтные источники питания
        • 2.2.4. Высоковольтные источники питания/измерители
        • 2.2.5. Электронные нагрузки
        • 2.2.6. Калибраторы измерителей напряжения и тока
      • 2.3. Измерение параметров резистивных компонентов
        • 2.3.1. Измерение резистивности и проводимости
        • 2.3.2. Измерители больших и малых сопротивлений
        • 2.3.3. Методы измерения удельного сопротивления и типа полупроводников
        • 2.3.4. Измеритель удельного сопротивления полупроводников ПИЛЛАР-1У
        • 2.3.5. Комплекс измерения больших удельных сопротивлений Keithley 65
        • 2.3.6. Электрометр и измеритель высокоомных сопротивлений Keithley 6517А
        • 2.3.7. Измерения экстремальных (высоких и низких) сопротивлений
        • 2.3.8. Определение типа проводимости полупроводников
      • 2.4. Измерение сверхмалых постоянных токов и напряжений
        • 2.4.1. Физические эффекты, ведущие к генерации сверхмалых токов и напряжений
        • 2.4.2. Методы измерения сверхмалых токов и напряжений
        • 2.4.3. Мультиметры с расширенными пределами измерения
        • 2.4.4. Микровольтметры и нановольтметры
        • 2.4.5. Методы повышения точности измерений сверхмалых напряжений, токов и сопротивлений
        • 2.4.6. Измерение температуры
      • 2.5. Аксессуары, опции и средства интеграции приборов
        • 2.5.1. Выбор аксессуаров для измерительных приборов
        • 2.5.2. Опции для измерительных приборов
        • 2.5.3. Средства интеграции измерительных приборов
      • 2.6. Анализатор/источник постоянных напряжений Agilent N6705A
        • 2.6.1. Назначение и конструкция прибора
        • 2.6.2. Отображаемая дисплеем информация
        • 2.6.3. Генератор испытательных сигналов
        • 2.6.4. Применение прибора
    • 3. Измерения на переменном токе
      • 3.1. Основные параметры переменного напряжения и тока
        • 3.1.1. Параметры синусоидального напряжения и тока
        • 3.1.2. Истинное среднеквадратическое значение (True RMS)
        • 3.1.3. Коэффициент нелинейных искажений (гармоник)
      • 3.2. Измерение параметров переменного напряжения и тока
        • 3.2.1. Принципы построения измерителей переменных токов и напряжений
        • 3.2.2. Принципы построения измерителей с истинным среднеквадратическим значением
        • 3.2.3. Измерение переменных токов и напряжений мультиметрами
        • 3.2.4. Измерители коэффициента гармоник
        • 3.2.5. Измерители частоты, периода и фазы
        • 3.2.6. Профессиональные цифровые частотомеры фирмы Pendulum
        • 3.2.7. Измерители мощности ВЧ- и СВЧ-сигналов
      • 3.3. Параметры реактивных компонентов и цепей с ними
        • 3.3.1. Идеальная индуктивность
        • 3.3.2. Идеальная емкость
        • 3.2.3. Иммитанс, адмитанс и импеданс цепей
      • 3.4. Измерение параметров реактивных компонентов
        • 3.4.1. Измерение емкости и индуктивности
        • 3.4.2. Общий обзор цифровых измерителей иммитанса и импеданса
        • 3.4.3. Цифровой измеритель иммитанса Е7-20
        • 3.4.4. Малогабаритный измеритель иммитанса Е7-25
        • 3.4.5. Работа с измерителем иммитанса Е7-20
        • 3.4.6. Широкодиапазонные RLC-измерители АКТАКОМ АМ-3001, АМ-3018 и АМ-3026
        • 3.4.7. Лабораторные LCR-измерители компании Good Will
        • 3.4.8. Лабораторные LCR-измерители АКИП серии 61 **
        • 3.4.9. Высокочастотные LCR-измерители фирмы WK
    • 4. Измерительные генераторы сигналов
      • 4.1. Аналоговые генераторы синусоидальных сигналов
        • 4.1.1. Основные типы аналоговых генераторов синусоидального напряжения
        • 4.1.2. Обобщенная схема аналогового генератора синусоидального напряжения
        • 4.1.3 RC-генераторы
        • 4.1.4. LC-генераторы синусоидального напряжения
        • 4.1.5. Кварцевые резонаторы и генераторы
        • 4.1.6. Эталонные генераторы синусоидального напряжения
        • 4.1.7. LC-генераторы стандартных сигналов (ГСС)
      • 4.2. Основы цифрового синтеза частоты и формы сигналов
        • 4.2.1. Основные методы цифрового синтеза синусоидальных сигналов
        • 4.2.2. Цифровой частотный синтез
        • 4.2.3. Генераторы произвольных функций (AFG)
        • 4.2.4. Генераторы сигналов произвольной формы (AWG)
        • 4.2.5. Шум квантования у генераторов с цифровым синтезом формы сигналов
        • 4.2.6. Фазовый шум генераторов
      • 4.3. ГСС с цифровым синтезом умеренной сложности
        • 4.3.1. Простые ВЧ- и СВЧ-генераторы с цифровым синтезом
        • 4.3.2. ГСС с цифровым синтезом фирмы Agilent Technologies
        • 4.3.3. Генераторы синусоидальных сигналов фирмы ROHDE&SCHWARE
      • 4.4. Векторные генераторы синусоидальных сигналов
        • 4.4.1. Векторное представление сигналов и цифровая модуляция
        • 4.4.2. Векторные генераторы фирмы Agilent Technologies
        • 4.4.3. Векторные генераторы фирмы R&S
        • 4.4.4. Векторные генераторы фирмы Keithley
      • 4.5. Импульсные сигналы и принципы их генерации
        • 4.5.1. Формы и параметры импульсов
        • 4.5.2. Спектр импульсных сигналов
        • 4.5.3. Схемотехника импульсных генераторов
        • 4.5.4. Типичная функциональная схема генератора импульсов
        • 4.5.5. Отечественные серийные генераторы импульсов
        • 4.5.6. Зарубежные промышленные генераторы импульсов
      • 4.6. Генераторы импульсов сверхмалой длительности
        • 4.6.1. Принципы генерации импульсов с субнаносекундным временем нарастания
        • 4.6.2. Генераторы импульсов с субнаносекундными фронтами
        • 4.6.3. Генераторы пикосекундных импульсов фирмы Picosecond Pulse Lab
      • 4.7. Аналоговые функциональные генераторы
        • 4.7.1. Основные типы функциональных генераторов
        • 4.7.2. Функциональные генераторы с интегратором на интегральном операционном усилителе
        • 4.7.3. Функциональные генераторы, управляемые напряжением или током
        • 4.7.4. Микросхемы для аналоговых функциональных генераторов
        • 4.7.5. Отечественные аналоговые функциональные генераторы
        • 4.7.6. Функциональные генераторы зарубежных фирм
      • 4.8. Функциональные генераторы с цифровым синтезом выходных сигналов
        • 4.8.1. Принципы построения функциональных генераторов с цифровым синтезом выходных сигналов
        • 4.8.2. Цифровые функциональные генераторы зарубежных фирм
      • 4.9. Генераторы серии AFG3000 компании Tektronix
        • 4.9.1. Внешний вид и работа с генераторами серии AFG3000
        • 4.9.2. Технические характеристики генераторов AFG3000
        • 4.9.3. Работа с генератором AFG3000
        • 4.9.4. Основные возможности генераторов AFG3000
        • 4.9.5. Применение AFG3000 в роли ГКЧ и Q-метра
        • 4.9.6. Применение AFG3000 в роли импульсного генератора
      • 4.10. Программное обеспечение генераторов AFG3000
        • 4.10.1. Назначение программы ArbExpress и ее интерфейс
        • 4.10.2. Создание сигналов стандартных форм
        • 4.10.3. Настройка на типы приборов и работа с файлами
        • 4.10.4. Программирование формы сигналов
        • 4.10.5. Применение графического редактора формы сигналов
        • 4.10.6. Математические операции с сигналами
        • 4.10.7. Построение сигнала по осциллограмме
        • 4.10.8. Управление генераторами от системы MATLAB
      • 4.11. Программа Nl Signal Express Tektronix Edition
        • 4.11.1. Назначение программы
        • 4.11.2. Выбор и запуск программы
        • 4.11.3. Окно выбора инструмента (прибора)
        • 4.11.4. Работа с генератором серии AFG3000
        • 4.11.5. Дополнительные возможности программы
      • 4.12. Генераторы сигналов произвольной формы класса AWG
        • 4.12.1. Сравнение генераторов класса AFG и AWG
        • 4.12.2. Генераторы серии AWG7000
        • 4.12.3. Генераторы серии AWG5000
      • 4.13. Генераторы цифровых сигналов произвольной формы (паттернов)
        • 4.13.1. Функциональная схема генератора паттернов данных
        • 4.13.2. Генераторы цифровых сигналов Tektronix DG2020A
        • 4.13.3. Генераторы цифровых сигналов Tektronix DG5078/5274/DTG5334
        • 4.13.4. Генератор импульсов/паттернов серии 3400 фирмы Keithley
    • 5. Современные электронные осциллографы
      • 5.1. Закат аналоговой осциллографии
        • 5.1.1. Основные типы электронных осциллографов
        • 5.1.2. Достоинства и недостатки аналоговых осциллографов
        • 5.1.3. Требования к усилителям осциллографов
        • 5.1.4. Широкополосные аналоговые осциллографы AKTAKOM-IWATSU с обычной ЭАТ
        • 5.1.5. Широкополосные аналоговые осциллографы AKTAKOM-IWATSU со сканирующей ЭАТ
      • 5.2. Основы построения и работы цифровых запоминающих осциллографов
        • 5.2.1. Блок-схема цифрового запоминающего осциллографа
        • 5.2.2. О выборе числа отсчетов, восстановлении и интерполяции сигналов
        • 5.2.3. Достоинства и недостатки цифровых запоминающих осциллографов
      • 5.3. "Бюджетные" цифровые запоминающие осциллографы
        • 5.3.1. Какие из цифровых осциллографов можно отнести к бюджетным
        • 5.3.2. Массовые цифровые осциллографы юго-восточных фирм
        • 5.3.3. Массовые цифровые осциллографы фирмы RIGOL
      • 5.4. Цифровые осциллографы компании Tektronix
        • 5.4.1. Цифровые осциллографы фирмы Tektronix закрытой архитектуры
        • 5.4.2. Цифровые осциллографы Tektronix с открытой архитектурой
        • 5.4.3. Технические новинки в осциллографах фирмы Tektronix
      • 5.5. Цифровые осциллографы фирмы LeCroy
        • 5.5.1. Цифровые осциллографы LeCroy с полосой до 500 МГц
        • 5.5.2. Цифровые осциллографы LeCroy среднего класса
        • 5.5.3. Цифровые осциллографы LeCroy высшего класса
      • 5.6. Цифровые осциллографы фирмы Asilent Technologies
        • 5.6.1. "Бюджетные" цифровые осциллографы фирмы Agilent
        • 5.6.2. Цифровые осциллографы фирмы Agilent Technologies среднего класса
        • 5.6.3. Цифровые осциллографы фирмы Agilent Technologies высшего класса
      • 5.7. Стробоскопические осциллографы
        • 5.7.1. Принципы построения стробоскопических осциллографов
        • 5.7.2. Генераторы стробирующих импульсов
        • 5.7.3. Устройства выборки сигналов
        • 5.7.4. Отечественные стробоскопические осциллографы
        • 5.7.5. Стробоскопический осциллограф ПК С1-24
        • 5.7.6. Стробоскопические осциллографы серии Wave Expert с полосой до 100 ГГц
    • 6. Искусство осциллографии
      • 6.1. Аксессуары осциллографов и их применение
        • 6.1.1. Назначение пробников
        • 6.1.2. Пробники на основе компенсированного делителя
        • 6.1.3. Высоковольтные пробники
        • 6.1.4. Пробники с коррекцией частотной характеристики
        • 6.1.5. Учет параметров пробников
        • 6.1.6. Подключение пробников к источникам сигналов
        • 6.1.7. Эволюция конструкции осциллографических пробников
        • 6.1.8. Пробники с оптической развязкой
        • 6.1.9. Токовые пробники
        • 6.1.10. Новейшие пробники Tektronix класса TekConnect™ и TekVPI™
      • 6.2. Согласованные широкополосные устройства
        • 6.2.1. Согласованные пассивные пробники и кабели
        • 6.2.2. О выборе входного сопротивления у осциллографов
        • 6.2.3. Коаксиальные аттенюаторы, переходники и тройники
      • 6.3. Активные осциллографические пробники
        • 6.3.1. Назначение современных активных пробников
        • 6.3.2. Широкополосные активные пробники
        • 6.3.3. Дифференциальные пробники
        • 6.3.4. Конфигурация измерительной головки пробников
        • 6.3.5. Сверхширокополосные дифференциальные пробники
      • 6.4. Специальные устройства подключения и фиксации пробников
        • 6.4.1. Применение для подключения пробников механических манипуляторов
        • 6.4.2. Станция 2020H/V фирмы Probing Solution, Inc.
      • 6.5. Импульсная рефлектоскопия и рефлетометрия
        • 6.5.1. Основные положения импульсной рефлектометрии
        • 6.5.2. Расшифровка рефлектограмм
        • 6.5.3. Цифровой осциллограф в роли рефлектометра
      • 6.6. Спектральный анализ с помощью цифровых осциллографов
        • 6.6.1. Основы оконного спектрального анализа
        • 6.6.2. Выбор окна при спектральном анализе
        • 6.6.3. Спектральный анализ у простых осциллографов
        • 6.6.4. Спектральный анализ у осциллографов DPO 4000
        • 6.6.5. Спектральный анализ у осциллографов TDS 5000
        • 6.6.6. Спектральный анализ у осциллографов DPO 7000
        • 6.6.7. Спектральный анализа у осциллографов других фирм
      • 6.7. Другие возможности современных осциллографов
        • 6.7.1. Режимы выборок и пик-детектор
        • 6.7.2. Опорные осциллограммы
        • 6.7.3. Расчетные осциллограммы и математический редактор
        • 6.7.4. Глазковые диаграммы
      • 6.8. Применение системы MATLAB
        • 6.8.1. Компьютерная математика в измерительной технике
        • 6.8.2. Подключение к ПК цифрового осциллографа
        • 6.8.3. Стыковка цифрового осциллографа с системой MATLAB
        • 6.8.4. Программа ввода в MATLAB осциллограмм двух каналов
      • 6.9. Математические операции с сигналами
        • 6.9.1. Математические операции с сигналами двух каналов
        • 6.9.2. Очистка осциллограммы от шума
      • 6.10. Спектральный анализ реальных осциллограмм в MATLAB
        • 6.10.1. Фурье-преобразование и периодограммы для реальных осциллограмм
        • 6.10.2. MATLAB-инструмент спектрального анализа SPTool
        • 6.10.3. Построение спектра в MATLAB различными методами
        • 6.10.4. Оценка в MATLAB спектра реальных сигналов в виде пачек
      • 6.11. Вей влет-анализ реальных осциллограмм в MATLAB
        • 6.11.1. Вейвлеты против рядов Фурье
        • 6.11.2. Вей влет-анализ осциллограмм
        • 6.11.3. GUI-средства для работы с вейвлетами
    • 7. Анализаторы сигналов, спектра и цепей
      • 7.1. Введение в осциллографические анализаторы
        • 7.1.1. Обобщенная схема анализа электронных устройств
        • 7.1.2. Основные типы осциллографических анализаторов
      • 7.2. Гетеродинные и векторные анализаторы спектра
        • 7.2.1. Принципы построения гетеродинных анализаторов спектра
        • 7.2.2. Следящий (трекинг-) генератор
        • 7.2.3. Основные типы детекторов в анализаторах спектра
        • 7.2.4. Шум анализаторов спектра
        • 7.2.5. Динамические искажения АЧХ УПЧ
        • 7.2.6. Основные установки в анализаторах спектра
        • 7.2.7. Гетеродинный анализатор спектра АКС-1100/1101
        • 7.2.8. Функциональная схема современного цифрового анализатора спектра
        • 7.2.9. Векторные анализаторы спектра
      • 7.3. Серийные цифровые анализаторы спектра
        • 7.3.1. Анализаторы спектра СК-4 Белан
        • 7.3.2. Анализатора спектра СК4-Белан 32
        • 7.3.3. Анализаторы спектра АКТАКОМ АКС-1301/1601
        • 7.3.4. Анализаторы спектра фирмы Nex1
        • 7.3.5. Анализаторы спектра фирмы LSA
        • 7.3.6. Анализаторы спектра фирмы Agilent Technologies
        • 7.3.7. Анализаторы спектра фирмы ROHDE&SCHWARZ
        • 7.3.8. Анализаторы спектра фирмы Good Will GSP-810/827/9830
        • 7.3.9. Анализаторы спектра АКИП-4201/4202
        • 7.3.10. Работа с цифровым анализатором спектра
      • 7.4. Анализаторы спектра реального времени
        • 7.4.1. Назначение анализаторов спектра реального времени
        • 7.4.2. Функциональная схема и работа анализатора спектра реального времени
        • 7.4.3. Цифровое преобразование сигналов в анализаторах спектра реального времени
        • 7.4.4. Синхронизация анализаторов спектра реального времени
        • 7.4.5. Основные способы представления результатов анализа
        • 7.4.6. Анализаторы спектра реального времени RSA2200/3000
        • 7.4.7. Анализаторы спектра реального времени RSA3300В/3408В
        • 7.4.8. Анализаторы радиочастотного спектра серии RSA6100
      • 7.5. Примеры работы с анализатором Tektronix RSA 6114А
        • 7.5.1. Экран анализатора спектра Tektronix RSA 6114А
        • 7.5.2. Применение маркеров
        • 7.5.3. Контроль спектра близких к идеальным импульсных сигналов
        • 7.5.4. Исследование спектров модулированных сигналов
        • 7.5.5. Исследование спектра сигналов с частотной модуляцией (FM)
        • 7.5.6. Исследование спектра сигналов с фазовой модуляцией (ФМ)
        • 7.5.7. Исследование спектра УКВ-диапазона
      • 7.6. Анализаторы сигналов и источников сигналов
        • 7.6.1. Методы измерения фазового шума
        • 7.6.2. Системы параметров для радиочастотных цепей
        • 7.6.3. Измерительный приемник фирмы R&S FMSR
        • 7.6.4. Анализатор источников сигналов фирмы R&S FSUP
        • 7.6.5. Радиочастотные векторные анализаторы сигналов Keithley 2810/2820
      • 7.7. Векторные и скалярные анализаторы цепей
        • 7.7.1. Особенности анализаторов цепей
        • 7.7.2. Анализаторы четырехполюсников
        • 7.7.3. Многопортовые векторные анализаторы цепей
      • 7.8. Аксессуары для анализаторов спектра
        • 7.8.1. Антенны для анализаторов спектра и электромагнитного поля
        • 7.8.2. Пробник-переходник RTPA2A для анализаторов спектра реального времени
        • 7.8.3. Внешние смесители широкополосных анализаторов спектра
    • 8. Последовательные и логические анализаторы, осциллографы смешанных сигналов
      • 8.1. Последовательные анализаторы сигналов
        • 8.1.1. Требования к последовательным анализаторам телекоммуникационных сигналов
        • 8.1.2. Последовательные анализаторы Tektronix DSA70000
        • 8.1.3. Цифровой последовательный анализатор Tektronix DSA8200
        • 8.1.4. Последовательные анализаторы реального времени LeCroy SDA 18000/10000/9000
        • 8.1.5. Последовательные анализаторы реального времени LeCroy SDA 800Zi
        • 8.1.6. Последовательные анализаторы фирмы Asilent
      • 8.2. Анализ логических состояний
        • 8.2.1. Назначение логических анализаторов
        • 8.2.2. Функциональная схема логического анализатора
        • 8.2.3. Этапы работы с логическим анализатором
        • 8.2.4. Запуск логического анализатора и синхронизация
        • 8.2.5. Синхронный и асинхронный режимы сбора данных
        • 8.2.6. Глитчи в цифровой аппаратуре и проблема их обнаружения
      • 8.3. Современные логические анализаторы
        • 8.3.1. Логические анализаторы фирмы Asilent Technologies
        • 8.3.2. Логические анализаторы фирмы Tektronix серий TLA 700 и 600
        • 8.3.3. Логические анализаторы фирмы Tektronix серии TLA 5000
        • 8.3.4. Логические анализаторы серии LA фирмы Leaptronix
        • 8.3.5. Логические анализаторы фирмы Hewlett Packard
      • 8.4. Осциллографы смешанных сигналов
        • 8.4.1. Назначение осциллографов смешанных сигналов
        • 8.4.2. Осциллографы смешанных сигналов фирмы Agilent Technologies
        • 8.4.3. Осциллографы смешанных сигналов фирмы Tektronix
        • 8.4.4. Осциллографы смешанных сигналов фирмы RIGOL
        • 8.4.5. Применение осциллографов фирмы LeCroy с опциями логического анализатора
      • 8.5. Подключение логических анализаторов к испытуемому устройству
        • 8.5.1. Логические пробники общего назначения
        • 8.5.2. Высокоплотные многоканальные пробники
    • 9. Исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
      • 9.1. Основы измерения статических параметров полупроводниковых приборов
        • 9.1.1. Типы тестируемых полупроводниковых приборов
        • 9.1.2. Измерительная схема тестирования диодов
        • 9.1.3. Измерительная схема тестирования транзисторов и микросхем
        • 9.1.4. Коммутация измерительных приборов
        • 9.1.5. Типичный объект тестирования нанотехнологий – нанодиод
      • 9.2. Источники/измерители фирмы Keithley для тестирования полупроводниковых приборов и микросхем
        • 9.2.1. Линейные источники/измерители серии 2400
        • 9.2.2. Многоканальные системные источники/измерители серии 2600
        • 9.2.3. Контроль диодов с помощью источников/измерителей серии 2600
        • 9.2.4. Контроль микросхем с помощью источников/измерителей серии 2600
        • 9.2.5. Характериограф 4200-SCS
        • 9.2.6. Примеры работы с характериографом 4200-SCS
      • 9.3. Снятие характеристик полевых транзисторов
        • 9.3.1. Вольт-амперные характеристики полевых транзисторов
        • 9.3.2. Дифференциальные параметры полевых транзисторов
        • 9.3.4. Исследование полевых транзисторов с помощью характериографа
      • 9.4. Анализатор/характериограф силовых полупроводниковых приборов Agilent B1501А
        • 9.4.1. Назначениеи внешний вид анализатора Agilint B1501A
        • 9.4.2. Примеры снятия характеристик мощного высоковольтного МДП-транзистора
      • 9.5. Измерение радиочастотных параметров полупроводниковых приборов и микросхем
        • 9.5.1. Измерение радиочастотных параметров цифровыми осциллографами
        • 9.5.2. Измерение радиочастотных параметров с помощью генераторов и анализаторов спектров, сигналов и цепей
        • 9.5.3. Комплекс измерения радиочастотных параметров фирмы Keithley
        • 9.5.4. Система параметрического контроля радиочастотных параметров микросхем S600
      • 9.6. Измерение дифференциальных параметров
        • 9.6.1. Определение дифференциальных параметров
        • 9.6.2. Негатроны - приборы с отрицательной проводимостью и сопротивлением
        • 9.6.3. Методы измерения и построения N- и S-образных ВАХ
      • 9.7. Измерения временных параметров полупроводниковых приборов
        • 9.7.1. Физические процессы при переключении диодов
        • 9.7.2. Платы расширения для измерения временных параметров фирмы Keithley
        • 9.7.3. Измерение времен переключения биполярных транзисторов
        • 9.7.4. Измерение параметров МДП-транзисторов во временной области
        • 9.7.5. Измерение времен переключения арсенид-галлиевых транзисторов
        • 9.7.6. Измерение времени переключения туннельных диодов
        • 9.7.7. Измерение времени переключения лавинных транзисторов
      • 9.8. Тестирование интегральных микросхем
        • 9.8.1. Сверхскоростные интегральные микросхемы как объекты тестирования
        • 9.8.2. Тестирование интегральных компараторов
        • 9.8.3. Тестирование интегральных усилителей
        • 9.8.4. Контроль индикаторной панели
    • 10. Измерение параметров оптико-электронных приборов
      • 10.1. Типы, конструктивные особенности и назначение оптико-электронных приборов
        • 10.1.1. Типы полупроводниковых оптико-электронных приборов
        • 10.1.2. Конструкция и характеристики обычных светодиодов
        • 10.1.3. Конструкция и характеристики лазерных светодиодов
        • 10.1.4. Лазерная головка для считывания информации с оптических дисков
        • 10.1.5. Конструкция и характеристики фотоприемников
      • 10.2. Тестирование излучателей светового излучения
        • 10.2.1. Интегрирующая сфера 2500INT фирмы Keithley
        • 10.2.2. Построение системы тестирования излучателей света
        • 10.2.3. Источники/измерители серии 2400 для IV тестирования оптоэлектронных приборов
      • 10.3. Тестирование импульсных лазерных излучателей
        • 10.3.1. Интегрирующая сфера для импульсных лазерных излучателей 2520INT
        • 10.3.2. Система тестирования импульсных лазерных излучателей 2520
      • 10.4. Тестирование фотодиодов и фототранзисторов
        • 10.4.1. Снятие статических характеристик фотодиодов и фототранзисторов
        • 10.4.2. Многоканальная I-V система тестирования 4500-MTS
        • 10.4.3. Двухканальный пикоамперметр серии 2502 для фотодиодных измерений
        • 10.4.4. Системные источники/измерители 2602/2612 для LIV тестирования
      • 10.5. Исследование высокоскоростных излучателей и приемников света
        • 10.5.1. Особенности динамики излучения высокоскоростных лазерных диодов
        • 10.5.2. Установка для изучения динамики излучения высокоскоростных лазерных диодов
        • 10.5.3. Наблюдение эффекта обострения фронта импульса лазерного излучения
        • 10.5.4. Запуск мощных лазерных диодов и лазерных решеток
        • 10.5.5. Импульсные генераторы и оптические модули фирмы DEI
        • 10.5.6. Испытание сверхскоростных светодиодов и фотоприемников
      • 10.6. Испытание световолоконных кабелей и линий передачи
        • 10.6.1. Конструкция и параметры световодов световолоконных кабелей
        • 10.6.2. Оптическая рефлектометрия
        • 10.6.3. Оптические мини-рефлекторы
      • 10.7. Основы электронно-лазерной осциллографии
        • 10.7.1. Преобразования сверхкоротких импульсов лазерного излучения
        • 10.7.2. Методы исследования импульсов лазерного излучения пико- и фемтосекундного диапазона
        • 10.7.3. Оптоэлектронный стробоскопический осциллограф
    • ЛИТЕРАТУРА

 

Valid CSS! Valid XHTML 1.1 Rambler's Top100

Вопрос службе поддержки

[x]
Не нашли ответ на свой вопрос?
Хотите сообщить нам об ошибке или неточности на сайте?
Заполните форму и мы обязательно свяжемся с Вами!
Поля, отмеченные *, являются обязательными.

Ваш логин
Как к Вам обращаться
Ваш Email *
Текст вопроса или сообщения *
(не более 1000 символов)
осталось